01 lutego 2017
ABSTRAKT Dla kontroli kształtu np. kulistości cząstki opracowano metodę optyczno-elektroniczną, która pozwala jednocześnie zmierzyć wymiar cząstki w dwóch prostopadłych do siebie kierunkach.  Kształt cząstki opisuje współczynnik Wk, który jest prostym
26 września 2016
ABSTRAKT   Kalibracja sitowa przyrządu optycznego polega na porównaniu rozkładów objętościowych (wagowych) uzyskanych za pomocą sit mechanicznych z analizą ilościowo-wymiarową zbioru cząstek przeliczonych na objętość. Porównania takie umożliwiają określenie kalibracji sitowej
30 maja 2016
ABSTRAKT Pracownicy KAMIKA wywodzący się z przemysłu lotniczego, zauważyli problem złych pomiarów i zaprojektowali innowacyjne urządzenie pozwalające poprawnie mierzyć przy dowolnie szybkim wietrze. Efektem jest umowa współpracy tej małej firmy
24 maja 2016
ABSTRAKT Na stanowisku pomiarowym składającym się z generatora aerosolu i analizatora IPS T wykonano badania w celu określenia prawidłowego sposobu pomiaru koncentracji cząstek zawieszonych w powietrzu.                                                                                                                                           Analizator IPS T jest
19 kwietnia 2016
ABSTRAKT   W laboratorium używa się wielu różnych przyrządów do pomiaru uziarnienia materiałów mineralnych. Stąd pytanie, czy istnieje możliwość wykonywania takich pomiarów również w trakcie produkcji, a także cz możliwa jest
15 marca 2016
ABSTRAKT Metoda pomiaru: dyfrakcja laserowa nie mierzy bezpośrednio wymiarów cząstek, tylko kąt ugięcia promienia laserowego od powierzchni cząstek. Na podstawie tego kąta określa się wielkość cząstek, czyli jakiś wymiar. Co

Publikacje

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm